簡要描述:飛針測(cè)試機(jī)FA1116通過5aF的高分辨率的電容法測(cè)量,可檢出單獨(dú)線路欠缺的微細(xì)不良,從一般的光板到FPC、BGA、CSP、MCM等微細(xì)、高精密基板都可檢測(cè)
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飛針測(cè)試機(jī)FA1116
Max.100點(diǎn)/秒的高速測(cè)試,針痕深度減半
● 電容法測(cè)量,高速光板測(cè)試機(jī)
● Max.100點(diǎn)/秒的高速測(cè)試
● 鍍金基板及微細(xì)線路基板的測(cè)試時(shí)間提升30%
● 搭配新型探針CP1702-01以及軟著陸控制,實(shí)現(xiàn)微細(xì)線路的高速測(cè)試
● 通過5aF的高分辨率的電容法測(cè)量,可檢出單獨(dú)線路欠缺的微細(xì)不良
● 從一般的光板到FPC、BGA、CSP、MCM等微細(xì)、高精密基板都可檢測(cè)
● 小焊盤尺寸15um
● 除電容法測(cè)量外,標(biāo)準(zhǔn)配備電阻、電感、二極管以及電壓測(cè)量。另外通過MLCC測(cè)量功能,在JIS規(guī)格要求下也可實(shí)現(xiàn)電容測(cè)量。
● 通過豐富的測(cè)量功能及選件單元的結(jié)合,減少待測(cè)基板在現(xiàn)場的停放時(shí)間
飛針測(cè)試機(jī)FA1116規(guī)格表:
手臂數(shù)量 | 2 |
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測(cè)試步數(shù) | 多40,000步/piece 300,000步/sheet |
測(cè)試范圍 | DC測(cè)量功能 電阻:400 μΩ?40 MΩ 電容:4 μF?400 mF 二極管、三極管 (VF):0?25 V 齊納二極管 (VZ):0~25 V 短路:400 mΩ~40 kΩ 開路:4 Ω~4 MΩ 電壓:0?25 V AC測(cè)量功能 電阻:100 Ω?100 MΩ 電容:10 fF?10 μF 電感:10 μH?100 mH |
測(cè)試時(shí)間 | Max.100 points/s (0.1 mm移動(dòng), 2アーム同時(shí)プロービング, 容量測(cè)定時(shí)) |
探針可測(cè)區(qū)域 | 610W × 510D mm |
可測(cè)基板尺寸 | 厚度: 0.1?3.2 mm 外形:50W × 50D?610W × 510 mm 元件搭載范圍:上測(cè)10 mm (含板厚), 下側(cè):0.1 mm |
基板傳送 | 無自動(dòng)傳送規(guī)格 |
電源 | AC200 V ±10% (單相) 50/60 Hz, 3 kVA |
尺寸?重量 | 1443W × 1656H × 1185D mm, 1000 kg |
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